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AAA級太陽能模擬器
美國進(jìn)口SS50AAA-PLC太陽模擬器是當(dāng)今世界***高等級的太陽能模擬器,國際公認(rèn)的用來模擬太陽輻照度和頻譜的設(shè)備。太陽模擬器廣泛應(yīng)用于 ...
更新:2014-09-29
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少子壽命測試儀(HS-CLT)
合能陽光少子壽命測試儀(HS-CLT),是一款功能強(qiáng)大的少子壽命測試儀,不僅適用于硅片少子壽命的測量,更適用于硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼 ...
更新:2014-09-29
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無接觸少子壽命掃描儀(HS-MWR-2S3)
合能陽光無接觸少子壽命掃描儀(HS-MWR-2S-3)功能強(qiáng)大,能夠?qū)尉Ч璋?、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃 ...
更新:2014-09-29
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紅外探傷儀(NIR-01)
紅外探傷測試儀是專門用于多晶硅片生產(chǎn)中的硅塊硅棒硅片的裂縫、雜質(zhì)、黑點(diǎn)、陰影、微晶等缺陷探傷的儀器。
更新:2014-09-29
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原生多晶型號測試儀(HS-PSTT)
合能陽光原生多晶型號測試儀(HS-PSTT),是一款高端半導(dǎo)體材料型號測試儀器,具有大量程測試范圍的特點(diǎn),尤其適用于西門子法原生硅料生 ...
更新:2014-09-29
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硅片表面線痕深度測試儀(HS-SRT-301)
硅片表面線痕深度測試儀(HS-SRT-301)可用于測試硅片的表面線痕深度,具有便于攜帶、觸摸屏便捷操作、液晶顯示、節(jié)能等優(yōu)點(diǎn),同時內(nèi)置打 ...
更新:2014-09-29
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PL光致發(fā)光測試系統(tǒng)(NIR-PLuS-B)
NIR-PLUS/B檢測系統(tǒng)是一款光伏檢測的綜合分析系統(tǒng),既采用紅外技術(shù)對裂紋,孔洞,微結(jié)晶,雜質(zhì)和其他硬質(zhì)點(diǎn)等進(jìn)行檢測,又使用PL(光致 ...
更新:2014-09-29
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太陽能電池量子效率測試儀(PVE300)
我公司銷售的PVE300是基于Bentham公司專業(yè)的技術(shù)及25年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn),PVE300能夠快速并準(zhǔn)確的給出分析數(shù)據(jù),是經(jīng)過市場檢驗(yàn)的被廣泛應(yīng)用 ...
更新:2014-09-29
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太陽能電池量子效率測試儀(PH-IQE200)
PH-IQE200為太陽能電池光譜響應(yīng)測試,或稱量子效率QE(Quantum Efficiency)測試,或光電轉(zhuǎn)化效率IPCE (Monochromatic Incident Photon ...
更新:2014-09-29
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晶圓厚度綜合測試系統(tǒng)(OWT-200)
OWT-200型晶圓厚度綜合測試系統(tǒng),采用光學(xué)方法測量晶圓、藍(lán)寶石、Sic、Si、玻璃等材質(zhì)的表面特征,在無需任何接觸的情況下測量厚度、TT ...
更新:2014-09-29
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激光橢偏儀(PH-LE)
多角度激光橢偏儀(PH-LE型)專門針對晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測量,能夠測量薄膜厚度及其光學(xué)常數(shù),使用632.8nm波長氦氖激光器,具 ...
更新:2014-09-29
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全自動光譜橢偏儀(PH-ASE)
全自動光譜橢偏儀(PH-ASE型)把使用者從煩瑣的手動調(diào)節(jié)樣品高度和傾斜度工作中解放出來,樣品對準(zhǔn)是為了保證橢偏儀測量的可重復(fù)性和精確 ...
更新:2014-09-29
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金屬四探針電阻率方阻測試儀(HS-MPRT-5)
陽光的金屬四探頭電阻率方阻測試儀(HS-MPRT-5)是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 ...
更新:2014-09-29
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無接觸少子壽命測試儀(HS-SIM)
合能陽光無接觸少子壽命測試儀(MWR-SIM),是一款功能強(qiáng)大的無接觸少子壽命測試儀,能夠?qū)尉Ч璋簟⒍嗑Ч鑹K及硅片提供快速、無接觸、 ...
更新:2014-09-29
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硅材料碳氧含量測試儀(HS-OCT-2000)
■適合于硅材料的氧、碳含量的測定;■可實(shí)現(xiàn)硅料中氧碳含量自動、快速、準(zhǔn)確的測量;■具備完整的譜圖采集、光譜轉(zhuǎn)換、光譜處理、光譜分 ...
更新:2014-09-29
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硅片缺陷觀測儀(HS-WDI)
硅片缺陷觀測儀(HS-WDI),于對硅片的缺陷進(jìn)行觀察,效果非常明顯,包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等。 實(shí)時對圖像進(jìn)行分析 ...
更新:2014-09-29
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手動無接觸硅片測試儀(HS-NCS-300)
手動無接觸硅片測試儀(HS-NCS-300型)可以測量硅片厚度、總厚度變化 TTV 、彎曲度,該儀器適用于 Si , GaAs , InP , Ge 等幾乎所有的 ...
更新:2014-09-29
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