儀器介紹
PL Imaging system（光致發(fā)光檢測系統(tǒng)）是一種全新的應用于太陽能電池缺陷檢測的手段，以往的EL Imaging（電致發(fā)光）只能用于檢測電池片及模組的缺陷檢測，而PL Imaging則延伸到了Wafer 的缺陷檢測，從而在前一個工序，對產品的質量監(jiān)控有了一個更有力的保障。
此款產品廣泛應用于太陽能電池研究及應用的企業(yè)及高校研究所。
系統(tǒng)組成：
-K301VIS/IR Imaging 裝置
-激光及激光power
-光致發(fā)光光學系統(tǒng)
-樣品JIG（156*156mm)
-溫度控制模塊
主要特點
-利用電致/光致發(fā)光手段同時檢測wafer，電池片的各種缺陷。
-不僅適用于單晶，而且也適用于多晶硅及電池片的檢測
-測試時間短，精度高
-可以檢測到不同于電致發(fā)光檢測到的缺陷
供應商參考報價：面議
太陽能光伏：
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